案例检索结果 标签:SEM内容均包括 1-3 / 3物 精密设备0130半导体制造设备的磁场干扰消除对策半导体生产线上使用的SEM应用设备的观察图像中混入噪声,影响检测精度。 在设备内部安装...精密设备0165精密设备的被动及主动振动控制对策在以半导体制造为代表的微纳加工(包括检测和分析)过程中,设备要求其使用环境处在允许的微振动范围以...精密设备029扫描电子显微镜(SEM)磁场干扰的消除对策安装在大楼内演示厅中的SEM,受到周边铁路线路起因的磁场干扰影响。使用主动式消磁器后极为有效的改...